Tematyka konferencji obejmuje następujące zagadnienia:
- Podstawowe problemy metrologii
- Czujniki i przetworniki pomiarowe
- Przetwarzanie sygnałów
- Systemy informacyjno-pomiarowe
- Dydaktyka metrologii
X
Nasze serwisy używają informacji zapisanych w plikach cookies. Korzystając z serwisu wyrażasz zgodę na używanie plików cookies zgodnie z aktualnymi ustawieniami przeglądarki, które możesz zmienić w dowolnej chwili. Więcej informacji odnośnie plików cookies.
